簡要描述：KLA Filmetrics F40薄膜厚度測量儀通過將顯微鏡轉變為薄膜測量工具，實現小至1微米光斑的厚度和折射率測量。該設備配備集成彩色攝像機，可在1秒內完成測量，并且支持多種型號以適應不同厚度和波長范圍的需求。用戶只需將其連接至Windows計算機并通過USB端口操作即可。此外，F40系列提供全面的技術支持和材料庫，方便用戶進行精確測量。
產品型號：
所屬分類：薄膜厚度測量儀
更新時間：2025-03-10
廠商性質：生產廠家
KLA Filmetrics F40薄膜厚度測量儀產品系列用于測量小到 1 微米的光斑。 對大多數顯微鏡而言KLAFilmetrics F40薄膜厚度測量儀能簡單地固定在 c 型轉接器上，這樣的轉接器是顯微鏡行業標準配件。
F40 配備的集成彩色攝像機，能夠對測量點進行準確監控。 在 1 秒鐘之內就能測定厚度和折射率。 像我們所有的臺式儀器一樣，F40 需要連接到您裝有 Windows 計算機的 USB 端口上并在數分鐘內完成設定。
集成光譜儀/光源裝置
FILMeasure 8 軟件
FILMeasure 獨立軟件 (用于遠程數據分析)
MA-Cmount 安裝轉接器 顯微鏡轉接器
光纖連接線
BK7 參考材料
TS-Focus-SiO2-4-10000 厚度標準 聚焦/厚度標準
BG-Microscope (作為背景基準)
| 型號 | 厚度范圍 | 波長范圍 |
| F40 | 20nm-40μm | 400-850nm |
| F40-EXR | 20nm-120μm | 400-1700nm |
| F40-NIR | 40nm-120μm | 950-1700nm |
| F40-UV | 4nm-40μm | 190-1100nm |
| F40-UVX | 4nm-120μm | 190-1700nm |
地址：深圳市寶安區胤璇中心大廈T4棟2802室
郵箱：support@firstnanosystem.com
傳真：400-9999-185
您的位置：
咨詢電話